Висока роздільна здатність. Завдяки оптимізації щільності решітки та дизайну кута освітлення відбивна решітка досягає суб{0}}нанометрової роздільної здатності.
Широке спектральне покриття: виготовлена за технологією голографічного експонування, відбивна решітка працює в ультрафіолетовому та інфрачервоному діапазонах, задовольняючи потреби багато-діапазонного аналізу. На відміну від цього, решітки пропускання через обмеження поглинання матеріалу зазвичай застосовуються лише до видимого або ближнього-інфрачервоного діапазонів.
Гнучке налаштування кута: Обертаючи решітку або змінюючи кут падіння, можна динамічно регулювати напрямок дифрагованого світла, уможливлюючи сканування за довжиною хвилі. Ця характеристика має вирішальне значення для регульованих лазерів, замінюючи традиційні механічні модулі налаштування та покращуючи швидкість реакції системи.
Промислове виробництво: під час перевірки напівпровідникових пластин відбивні решітки в поєднанні з лінійними ПЗЗ-матрицями можуть досягати нанорозмірних вимірювань топографії поверхні зі швидкістю виявлення більш ніж у 10 разів вищою, ніж контактні зонди.
Наукові дослідження та аналіз: в астрономічних телескопах відбиваючі решітки розсіюють світло зірок у спектрі. Аналізуючи характеристики ліній поглинання, можна визначити хімічний склад і швидкість зірок із співвідношенням-до-шуму на 30% вищим, ніж у решіток пропускання.
У біомедичній галузі: у проточних цитометрах використовуються рефлекторні решітки для виявлення багатоколірного флуоресцентного маркування з пропускною здатністю одного аналізу до 10⁴ клітин/с, а властивості решітки проти-забруднення значно подовжують цикл обслуговування обладнання.
