Вибір довжини хвилі та спектроскопія: Основна функція відбивної решітки полягає в розкладанні поліхроматичного світла на монохроматичне. Його спектроскопічна точність визначається щільністю решітки (пар ліній/мм) і матеріалом решітки.
Відхилення променя та сканування: шляхом обертання або переміщення решітки можна динамічно змінювати напрямок дифрагованого світла, досягаючи сканування променя. Наприклад, у системах лазерного друку відбивні решітки вібрують із частотою тисячі разів на секунду, проектуючи лазерний промінь у різні позиції для формування символів або зображень; в астрономічних телескопах решітки в поєднанні з дзеркалами, що обертаються, можуть здійснювати спостереження зірок.
Фазова модуляція та корекція хвильового фронту. Удосконалені решітки відбиття можуть просторово модулювати фазу світлових хвиль за допомогою не-рівномірного розподілу решітки, що використовується для лазерного фокусування, створення голографічних зображень або оптичних обчислень. Наприклад, у надшвидких лазерних системах решітки фазової модуляції можуть стискати фемтосекундні імпульси до одного періоду (<5 fs), breaking through traditional optical limits.
Контроль розподілу інтенсивності: розробляючи робочий цикл ліній решітки, можна контролювати розподіл інтенсивності дифрагованого світла. Наприклад, у сфері оптичного зв’язку ґратка з робочим циклом 8:2 може зв’язати 90% інтенсивності світла з дифракцією нульового-порядку, а решта 10% використовувати для моніторингу сигналу, таким чином досягаючи ефективного розподілу оптичної потужності.
